KGD Test Handler
Osai amplia il portfolio delle soluzioni test handler. Dall’esigenza di garantire al cliente la qualità dei dispositivi che compongono i power modules, nasce la NeoKGD, soluzione chiavi in mano Osai che permette di testare i dispositivi a semiconduttore a livello di wafer, per fornire al cliente veri Known Good Dies (KGD). In un mercato in cui la domanda di applicazione dei power modules cresce costantemente, la NeoKGD risponde alle necessità di testing di clienti OSAT (Open source appropriate technology) e [...]