Osai amplia il portfolio delle soluzioni test handler. Dall’esigenza di garantire al cliente la qualità dei dispositivi che compongono i power modules, nasce la NeoKGD, soluzione chiavi in mano Osai che permette di testare i dispositivi a semiconduttore a livello di wafer, per fornire al cliente veri Known Good Dies (KGD).
In un mercato in cui la domanda di applicazione dei power modules cresce costantemente, la NeoKGD risponde alle necessità di testing di clienti OSAT (Open source appropriate technology) e IREM (International Rental Electronics Machines). Attraverso tre test station configurabili in maniera indipendente avvengono collaudi funzionali elettrici, d’ambiente e in temperature, oltre a una successiva ispezione ottica sui sei lati dei componenti, 6S (six sides Inspection).
Il cuore della NeoKGD si compone dalla fase di distacco e quella di test, con le opportune probe card, dispositivi altamente tecnologici che consentono di testare il funzionamento dei chip durante il loro processo di costruzione, che vanno a contattare le PEG del componente che non generino dei difetti intrinsechi, consegnando, alla fine del ciclo produttivo, circuiti integrati testati e privi di difetti.
Questo sistema dedicato al collaudo dei KGD è stato progettato per eseguire il testing ad alta velocità, assicurando ottimi risultati in termini di tempo ciclo e performance – 1800 UPH. NeoKGD verrà presentata ufficialmente durante PCIM EUROPE 2024, fiera di riferimento per la Power Electronics Industry a Norimberga dall’11 al 13 giugno.
Vi aspettiamo presso il nostro stand, Hall 6 – Booth 240. Per non perdere l’occasione di prenotare in anticipo un appuntamento con il nostro team commerciale clicca qui.
Osai, where ideas become technology!
